Pomiary powłok
Na wyposażeniu naszego zakładu galwanizacji znajduje się nowoczesny miernik firmy HELMUT FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDL.
FISCHERSCOPE XDL jest systemem fluorescencji rentgenowskiej do pomiaru grubości powłok oraz badania składu materiałów. X-RAY XDL® posiada unikalną możliwość korekcji odległości pomiarowej. Metoda DCM (Distance Controlled Measurement - Pomiary z Kontrolowaną Odległością) pozwala na automatyczną korekcję intensywności spektrów otrzymanych przez fluorescencję rentgenowską dla różnych odległości pomiarowych. Używając urządzenia XDL przy stałym położeniu głowicy pomiarowej można wykonywać pomiary na przedmiotach o skomplikowanych kształtach przy różnych odległościach pomiarowych.
Miernik wyposażony jest w unikalne oprogramowanie WinFTM które jest sercem tych urządzeń. Umożliwia ono pomiary bardzo skomplikowanych układów powłok bez stosowania wzorców kalibracyjnych z przewidywana dokładnością pomiarową oraz zapewnia badanie składu materiałów aż do 24 pierwiastków.
Typowe zastosowania to:
- Pomiar pojedynczych powłok: Zn, Ni,Cr, Cu, Ag, Au, Sn itp.
- Pomiar dwuskładnikowych powłok stopowych: SnPb, ZnNi oraz NiP na Fe itp.
- Pomiar trójskładnikowych powłok stopowych: AuCdCu na Ni itp.
- Pomiar powłok podwójnych: Au/Ni na Cu, Cr/Ni na Cu, Au/Ag na Ni, Sn/Cu na CuZn, itp.
- Pomiar powłok podwójnych gdzie jedna z powłok jest stopowa: SnPb/Ni na CuSn, Au/PdNi na CuSn, itp.
- Pomiar powłok potrójnych: Cr/Ni/Cu na stali lub ABS.
- Powłoki wielowarstwowe aż do 24 pierwiastków.
- Badanie składu stopów metalicznych do czterech pierwiastków.
- Badanie składu jonów metalicznych w kąpielach galwanicznych.
- Urządzenie wykonuje pomiary zgodnie z ASTM B568, DIN 60 987 oraz ISO 3497.